小林稔/著 -- 日刊工業新聞社 -- 2002.3 -- 549.7

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所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
書庫5門 /549/Ko12/ 0010002056848 一般図書 書架

資料詳細

タイトル1 VLSIプロセス技術 
副タイトル1 高歩留りのための問題点とその解決
著者1 小林稔 /著, 中島蕃 /著, 垂井康夫 /監修  
版表示 第2版
出版年 2002.3
出版者 日刊工業新聞社
一般件名 集積回路
ページ数 169p
大きさ 22cm
ISBN 4-526-04905-0
NDC分類(10版) 549.7
内容紹介 LSI製造プロセス開発で発生するプロセストラブルを主体に具体的事例を系統的に示すとともに、LSIの故障解析技術について現状も含めて解説。製造プロセス技術の評価と検討、後工程についても追加した、93年刊の第2版。

著者紹介

著者紹介1-1 元日本電信電話会社、NEL勤務。工学博士。
著者紹介1-2 NTTを経てNEL入社。同SAセンタ-センタ-長。