中井泉/編集 -- 朝倉書店 -- 2016.7 -- 433.57

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所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
科学産業 /433/N34/ 0010016356873 一般図書 書架

資料詳細

タイトル1 蛍光X線分析の実際 
著者1 中井泉 /編集, 日本分析化学会X線分析研究懇談会 /監修  
版表示 第2版
出版年 2016.7
出版者 朝倉書店
一般件名 エックス線分光分析
ページ数 10,265p
大きさ 26cm
ISBN 4-254-14103-0
NDC分類(10版) 433.57
内容紹介 試料調製、標準物質、蛍光X線装置スペクトル、定量分析などの基礎項目を平易に解説。さらに、食品中の有害元素分析、放射性大気粉塵の解析、美術品をはじめ文化財への非破壊分析など、豊富な応用事例も掲載する。

著者紹介

著者紹介1-1 1953年東京都生まれ。筑波大学大学院化学研究科博士課程修了(理学博士)。東京理科大学理学部教授。